課程主旨 由本課程由半導體業界的師資授課。課程包括VLSI, Device, DC Parametric, AC Parametric, Characterization Test等，目的是為了提升國內VLSI測試實務技術能力。除了提升國內測試實務技術能力，解決業界技術人才不足之困難外，更提供對有興趣人士進修或培育第二專長的機會。歡迎有志於提昇半導體VLSI測試測試能力之工程師踴躍報名。
課程簡介 Introduction to VLSI Testing
Introduction to Principle of ATE
Device and Device Testing
Specification
DC Parametric Testing
Functional Testing
AC Parametric Testing
Characterization Test
Test Pattern Development
Test Program Development (option)
Design For Testability (option)

課程內容
師資介紹 施文宗 國立中山大學 積智科技執行協理
參加對象 半導體產業、系統廠商之產品佈局開發與半導體相關者、與從事與半導體產業相關事務者(如產業分析、專利與智財分析…等)在職人才。
課程費用 總計新台幣 11000元政府補助新台幣 5500元；學員自付新台幣 5500元
請上http://www.tl.ntu.edu.tw/online.asp線上報名
報名專線:02-23628136 及 02-23693661 轉分機 47

- 新聞稿有效日期，至2006/10/14為止

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