主辦單位:未來產研 協辦媒體:全球光電科技資訊網、EE Chain電子電機資源網 活動日期:2005年05月11~12日 活動時間:AM 09:40~PM 16:30 活動地點:台北文化大學建國本部 地下二樓 台北市建國南路二段231號 02-2700-58585/11 研討會議程 09:00~09:40 全球數位相機及照相手機市場現況 全球數位相機市場規模分析 數位相機功能現況與未來發展 照相手機功能現況與未來發展 10:40~11:00 影像感測器-CCD CCD影像感測器市場規模現況 CCD模組小型化現況與未來趨勢 CCD模組耗功率現況與未來 11:00~12:00 影像感測器-CMOS IMAGE SENSOR CMOS影像感測器市場規模現況 CMOS影像感測器於照相產品應用現況與未來機會 CMOS感光能力提昇現況與趨勢
13:10~14:10 數位照相影像處理晶片 影像處理晶片技術與發展現況 影像處理晶片效能與功能提昇 晶片功能整合現況與未來系統趨勢 14:20~15:20 數位照相 相機用儲存裝置現況 記憶卡標準市場趨勢分析 相機用外接儲存裝置發展機會 15:20~15:40 數位相機顯示面板 數位相機面板應用顯示技術現況 數位相機用顯示面板成本結構分析 數位相機用顯示面板規格需求趨勢 5月12日研討會議程 09:40~10:40 數位照相鏡頭發展現況 數位照相鏡片模組發展現況 鏡片模組材料現況與未來發展 鏡片模組微小化的設計趨勢 主講人:美錡科技蕭金廷 協理
11:00~12:00 鏡片群設計與佈局 相機鏡頭設計觀念講解 鏡片群設計現況與未來趨勢 鏡片群設計考量課題與解決方法 主講人:荻野修司(邀請中)(備有口譯) 13:10~14:10 鏡片設計模擬軟體現況與應用(實做) 鏡片設計模擬軟體現況利用 模擬軟體設計鏡片(實機操作示範) 主講人:中央光電所林貞宏 先生 14:30~15:30 鏡片調芯偏差量測(實做) 現階段鏡片偏芯量檢測的困難 分析穿透式與反射式檢測法應用 分析鏡片雙面量測趨勢與未來發展鏡 片調芯偏差量測(實機操作示範) 主講人:日本KUNOH (備有口譯)
- 新聞稿有效日期,至2005/05/17為止
聯絡人 :吳怡芬 聯絡電話:0939-304212 電子郵件:even@iw.com.tw
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